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Yaya TRAORE ; Cheikh Talibouya DIOP ; Sadouanouan MALO ; Moussa Lo ; Stanislas Ouaro - Découverte de motifs fréquents guidée par une ontologie
arima:2558 - Revue Africaine de Recherche en Informatique et Mathématiques Appliquées, 7 décembre 2016, Volume 25 - 2016 - Numéro spécial CNRIA 2015 - https://doi.org/10.46298/arima.2558Découverte de motifs fréquents guidée par une ontologieArticle
- 1 Université Gaston Berger de Saint-Louis Sénégal [UGB]
- 2 Université Joseph Ki-Zerbo [Ouagadougou] [UJZK]
- 3 Université Joseph Ki-Zerbo [Université de Ouagadougou, Burkina Faso] [UJZK]
- 4 Université Joseph Ki-Zerbo [UJZK]
L'extraction des motifs fréquents en fouille de données génère une quantité énorme de motifs fréquents et requiert par conséquent la mise en place d'un post-traitement efficace afin de cibler les motifs fréquents les plus utiles. Cet article propose une approche de découverte de motifs fréquents utiles qui intègre les connaissances décrites par l'expert et représentées dans une ontologie associée aux données. L'approche utilise l'ontologie pour bénéficier de plus d'informations structurées afin d'éliminer certains motifs fréquents de l'analyse. Les expérimentations réalisées avec notre approche donnent des résultats satisfaisants.
Source : HAL:hal-01310985v3
Volume : Volume 25 - 2016 - Numéro spécial CNRIA 2015
Publié le : 7 décembre 2016
Accepté le : 7 décembre 2016
Soumis le : 29 novembre 2016
Mots-clés : Ontology,Frequent pattern,data mining,Ontologie,Motifs frequents,Fouille de données,[INFO] Computer Science [cs]
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